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藍(lán)菲光學(xué):推出整套醫(yī)療成像設(shè)備的檢測(cè)方案

2016-09-30 11:47 11778
英國(guó)豪邁旗下美國(guó)藍(lán)菲光學(xué)為某醫(yī)療設(shè)備制造商定制了一整套醫(yī)療成像測(cè)試設(shè)備,得到用戶的盛贊。這是繼在醫(yī)療內(nèi)窺鏡、激光醫(yī)療之后藍(lán)菲光學(xué)又一次在醫(yī)療成像設(shè)備領(lǐng)域的成功探索。

上海2016年9月30日電 /美通社/ -- 日前,英國(guó)豪邁旗下美國(guó)藍(lán)菲光學(xué)為某醫(yī)療設(shè)備制造商定制了一整套醫(yī)療成像測(cè)試設(shè)備,得到用戶的盛贊。這是繼在醫(yī)療內(nèi)窺鏡激光醫(yī)療之后藍(lán)菲光學(xué)又一次在醫(yī)療成像設(shè)備領(lǐng)域的成功探索。

測(cè)試對(duì)象一:閃爍晶體

當(dāng)前,高端醫(yī)學(xué)影像技術(shù),計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)、X 攝片和計(jì)算機(jī)斷層顯像(PET)等已廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)療產(chǎn)業(yè),這些醫(yī)療設(shè)備的光學(xué)成像都有一個(gè)共同特點(diǎn)即都是利用閃爍晶體成像。

熒光成像示例
熒光成像示例

閃爍晶體是指在高能射線(如 X 射線,γ 射線)或者其他放射性粒子激發(fā)下會(huì)發(fā)出熒光脈沖(閃爍光)的物質(zhì)。廣泛用于天體物理、高能物理、石油測(cè)井、醫(yī)學(xué)成像、安檢設(shè)備和國(guó)防安全等領(lǐng)域。隨著應(yīng)用的更高要求,對(duì)閃爍晶體的綜合性能要求越來(lái)越高,進(jìn)一步設(shè)計(jì)、發(fā)現(xiàn)、開發(fā)和生長(zhǎng)具有高密度、優(yōu)良光學(xué)均勻性、高光產(chǎn)額、快衰減、高穩(wěn)定性、低成本等綜合性能優(yōu)良的閃爍晶體是閃爍材料研究的重點(diǎn),同時(shí)如何準(zhǔn)確地測(cè)量閃爍晶體的性能也是研究的重點(diǎn)之一。

通常,在評(píng)價(jià)閃爍晶體的性能時(shí)需要測(cè)試其透光率、激發(fā)發(fā)射譜、光輸出、發(fā)光強(qiáng)度及發(fā)光不均勻性等。藍(lán)菲光學(xué)作為擁有近40年的光譜分析測(cè)試經(jīng)驗(yàn),是業(yè)內(nèi)為數(shù)不多的可以提供絕對(duì)光譜輻射通量溯源的企業(yè),也是除美國(guó)NIST外唯一擁有可以在1%不確定度范圍內(nèi)測(cè)試30-3000流明的4π/2π標(biāo)準(zhǔn)鹵鎢燈實(shí)驗(yàn)室的單位。藍(lán)菲光學(xué)的光譜分析測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試紫外-可見-近紅外波段的光譜及輻射通量以及待測(cè)物的反射和透射率,公司擁有全球知名的漫反射材料具有極佳的漫反射特性和朗伯特性,可以保證所有測(cè)試數(shù)據(jù)溯源到NIST。搭配藍(lán)菲光學(xué)高端光譜儀CDS 3020/3030可以瞬時(shí)捕捉光譜數(shù)據(jù),輕松實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確測(cè)量,幫助晶體研發(fā)人員準(zhǔn)確、高效地判斷閃爍晶體的光學(xué)性能。

illumia plus 光譜測(cè)試設(shè)備
illumia plus 光譜測(cè)試設(shè)備

測(cè)試對(duì)象二:成像傳感器校準(zhǔn)

我們知道高能射線發(fā)出的光人們是看不見的,當(dāng)它照射到閃爍晶體上會(huì)發(fā)出熒光(可見光波段),利用傳感器去捕捉發(fā)出的熒光從而成像,這樣醫(yī)生就可以透視生物體的情況。因此傳感器的成像質(zhì)量對(duì)醫(yī)生觀測(cè)生物體情況來(lái)說(shuō)也至關(guān)重要。藍(lán)菲光學(xué)為成像設(shè)備的測(cè)試和校準(zhǔn)提供了數(shù)以千計(jì)的均勻光源系統(tǒng),所有均勻光源系統(tǒng)采用藍(lán)菲光學(xué)的高漫反射涂層,可達(dá)近似100%的漫反射,出光口的均勻性均可達(dá)99%,提供可溯源至 NIST 的輻射度、亮度、照度及出口均勻度校準(zhǔn)報(bào)告。針對(duì)閃爍晶體發(fā)出熒光特性,藍(lán)菲光學(xué)定制了與閃爍晶體同波段的單色均勻光源用以校準(zhǔn)傳感器。

CMOS檢測(cè)
CMOS檢測(cè)

同國(guó)外相比,國(guó)內(nèi)閃爍晶體方面的生長(zhǎng)和性能研究結(jié)合得還不夠緊密,高性能的閃爍晶體的研制方面還十分薄弱。藍(lán)菲光學(xué)擁有近40年的光譜分析檢測(cè)技術(shù)以及超過15年的臨床診斷分析儀 OEM 制造經(jīng)驗(yàn),擁有專利技術(shù)的漫反射材料為醫(yī)療領(lǐng)域提供了多種 OEM 解決方案,可以為國(guó)內(nèi)閃爍晶體以及醫(yī)學(xué)成像技術(shù)的發(fā)展提供準(zhǔn)確的性能檢測(cè)。利用藍(lán)菲光學(xué)的在光學(xué)檢測(cè)和校準(zhǔn)方面的領(lǐng)先技術(shù)可以幫助改善光源以及成像質(zhì)量,促進(jìn)國(guó)內(nèi)閃爍晶體及光醫(yī)學(xué)成像研究的進(jìn)步。

消息來(lái)源:英國(guó)豪邁(Halma)
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